硅后验证与调试

目录

第Ⅰ部分 概 述

第1章 SoC硅后验证的挑战 2

1.1 引言 2

1.2 验证工作 3

1.3 硅后验证准备规划 7

1.4 硅后验证与调试架构 7

1.5 测试生成 9

1.6 硅后调试 10

1.7 小结 11

参考文献 12

第Ⅱ部分 调试架构

第2章 SoC测试设备：面向硅后验证的硅前设计准备 16

2.1 引言 16

2.2 硅后验证规划与开发生命周期 17

2.3 测试设备的早期历史：DFT 19

2.4 跟踪 22

2.5 数组访问、触发和补丁 24

2.6 调试软件集成 26

2.7 小结 27

参考文献 28

第3章 硅后验证中的结构化信号选择 29

3.1 引言 29

3.2 相关工作 30

3.3 信号恢复 32

3.4 门级信号选择（GSS） 34

3.5 基于RTL的信号选择 39

3.6 实验 44

3.7 小结 46

参考文献 47

第4章 基于仿真的信号选择 49

4.1 介绍 49

4.2 相关工作 50

4.3 背景与动机 51

4.4 改进恢复能力指标 54

4.5 基于选择算法的设计 57

4.6 实验结果 59

4.7 小结 64

参考文献 65

第5章 混合信号选择 66

5.1 引言 66

5.2 基础知识 67

5.3 混合信号选择算法 68

5.4 小结 73

参考文献 74

第6章 基于机器学习的硅后信号选择 75

6.1 引言 75

6.2 背景 76

6.3 探索策略 77

6.4 基于机器学习的信号选择 79

6.5 基于特征的信号选择 84

6.6 不同信号选择技术的比较 88

6.7 小结 91

参考文献 92

第Ⅲ部分 测试和断言的生成

第7章 可观测性感知的硅后测试生成 94

7.1 引言 94

7.2 可观测性感知测试生成 96

7.3 案例研究 102

7.4 小结 103

参考文献 104

第8章 片上约束随机激励生成 106

8.1 硅后受约束的随机验证 106

8.2 功能约束的表示 107

8.3 片上功能约束生成器 109

8.4 功能约束的实验评估 111

8.5 片上验证期间的激励分布 114

8.6 非重叠序列的生成 115

8.7 片上激励支持分布式控制的变体 116

8.8 支持分布式控制的解决方案实验评估 119

8.9 小结 122

参考文献 123

第9章 测试生成和用于多核内存一致性的轻量级检查 124

9.1 引言 124

9.2 MTraceCheck：高效的内存一致性验证 128

9.3 实验评估 139

9.4 Bug注入案例研究 147

9.5 讨论 149

9.6 小结 150

致谢 150

参考文献 151

第10章 硅后验证硬件断言的选择 154

10.1 硬件断言 154

10.2 研究方法 155

10.3 排名算法 159

10.4 断言综合 163

10.5 基于FPGA 的仿真 166

10.6 结果与讨论 173

10.7 小结 177

致谢 177

参考文献 178

第Ⅳ部分 硅后调试

第11章 调试数据缩减技术 180

11.1 疲于奔命 180

11.2 常见的调试方法 181

11.3 运行-暂停调试的简化方案 182

11.4 全速调试的缩减技术 188

11.5 小结 195

参考文献 196

第12章 硅后故障的高级调试 197

12.1 动机与所提出的硅后方案调试流程 197

12.2 支持硅后分析与调试的基于C 语言的设计流程提案 198

12.3 在设计中引入少量可编程性 199

12.4 利用实现设计中的可编程性进行硅后分析 202

12.5 实施具备可编程性的设计修正 205

12.6 当出现硅后缺陷时自动调整高层次设计 208

12.7 小结 215

参考文献 216

第13章 基于可满足性求解器的硅后故障定位 217

13.1 引言 217

13.2 硅后故障定位 218

13.3 基于SAT 的故障定位实践 222

13.4 小结 232

致谢 232

参考文献 233

第14章 虚拟原型的硅后测试覆盖率评估与分析 235

14.1 引言 235

14.2 背 景 237

14.3 硅后测试的覆盖率评估 239

14.4 硅后测试的运行时间分析 250

14.5 相关工作 259

14.6 小结 259

参考文献 261

第15章 利用调试架构进行硅后覆盖率分析 262

15.1 引言 262

15.2 背 景 264

15.3 硅后功能的覆盖率分析 265

15.4 实验 270

15.5 小结 272

参考文献 273

第V部分 案例研究

第16章 片上网络验证与调试 276

16.1 引言 276

16.2 NoC概述 277

16.3 NoC验证与调试所面临的*特挑战 278

16.4 NoC验证与调试方法论 283

16.5 小结 288

参考文献 289

第17章 IBM POWER8处理器的硅后验证 291

17.1 引言 291

17.2 POWER8 292

17.3 统一方法学 293

17.4 测试程序 295

17.5 实验准备工作 297

17.6 触发Bug 298

17.7 检查Bug 299

17.8 覆盖率收敛 300

17.9 鉴别分类 302

17.10 调 试 303

17.11 成 果 305

17.12 未来挑战 307

17.13 小结 307

参考文献 308

第VI部分 回顾与未来方向

第18章 SoC安全与硅后调试冲突 310

18.1 引言 310

18.2 背景 310

18.3 基于扫描链的攻击 312

18.4 跟踪缓冲器攻击 313

18.5 实验结果 319

18.6 小结 323

参考文献 324

第19章 硅后调试的未来 326

19.1 回顾 326

19.2 未来的发展方向 328

参考文献 330