半导体材料表征方法与技术

第1章 实验数据的统计分析

1.1 测量及误差

1.1.1 测量

1.1.2 误差的基本概念

1.2 有效数字与数值运算

1.2.1 有效数字

1.2 ..2 数字的舍入与运算

1.2.3 数字的运算规则

1.3 误差分析理论

1.3.1 测量结果的评价

1.3.2 随机误差

1.3 系统误差

1.3.4 粗大误差

1.3.5 误差的合成

1.4 测量方案的确定

第2章 数据的拟合

2.1 小二乘法

2.1.1 小二乘法基本原理

2.1.2 小二乘法与 似然法

2.2 线性参数的 小二乘拟合

2.2.1 直线拟合

2.2.2 一般线性参数方程

2.2.3 小二乘法数据拟合的统计性质

2.2.4 两个变量都具有误差时的直线拟合

2.3 非线性参数的 小二乘拟合

2.3.1 可化为线性拟合方程的非线性参数估计

2.3.2 非线性参数的一般处理方法

2.4 多项式曲线拟合

2.4.1 多项式拟合原理

2.4.2 测量数据的光滑处理

2.4.3 多项式拟合阶数的选取

2.5 正交多项式族的应用

2.5.1 曲线拟合中正交多项式族的使用

2.5.2 正交多项式族的构成

2.5.3 自变量等间距变化的直线方程计算

2.5.4 自变量等间距变化时多项式拟合计算

第3章 半导体物理基础

3.1 固体能带理论基础

3.2 载流子的准经典运动

3.2.1 布洛赫电子的有效质量和运动速度

3.2.2 能带填充与材料导电特性

3.3 平衡载流子的统计分布

3.3.1 载流子浓度计算

3.3.2 本征半导体

3.3.3 非本征半导体

3.4 半导体中的载流子输运

3.4.1 载流子的漂移运动

3.4.2 载流子的扩散运动

3.5 非平衡载流子

3.5.1 非平衡载流子的注入与复合