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目录
前言
1 基本概念
1.1 同位素和放射性
1.2 放射性的基本定律和单位
1.3 辐射源
1.3.1 密封辐射源的特性
1.3.2 密封性的检验和判据
1.3.3 辐射源的使用和商品化
1.4 辐射与物质的相互作用
1.4.1 α辐射
1.4.2 β辐射
1.4.3 Υ辐射
1.4.4 中子辐射
2 辐射探测系统
2.1 电离室
2.2 正比计数管
2.3 G－M计数管
2.4 半导体探测器
2.5 闪烁计数器
2.5.1 闪烁体
2.5.2 光电倍增管
2.5.3 工作稳定性
2.5.4 闪烁能谱测量
2.5.5 带半导体光敏器件的闪烁探测器
2.6 工业核仪表中的探测器
3 测量方法和测量仪表
3.1 同位素测量方法
3.1.1 直接测量
3.1.2 差分测量
3.1.3 补偿测量
3.1.4 自动校准
3.2 统计测量误差
3.3 放射性同位素测量仪表
3.3.1 用于信号处理的电子学系统
3.3.2 通用测量系统
3.3.3 智能测量仪表
3.3.4 多道测量装置
3.4 控制系统
4 极限值指示
4.1 放射性同位素的极限值指示（Υ继电器）
4.2 适用于解决极限值指示问题的几种放射性同位素装置
4.3 料位指示器Υ继电器的应用
4.4 料位指示器在自动控制中的应用
5 料位测量
5.1 吸收式料位测量仪表
5.2 跟踪式料位测量仪表
5.3 Υ定位剖面测量
5.4 利用放射性同位素探测进行料位控制
5.5 料位测量和工艺监督
6 厚度测量
6.1 利用放射性同位素进行厚度测量
6.2 放射性同位素厚度测量装置
6.3 厚度测量装置的应用
6.4 厚度（表面质量）控制
6.5 利用厚度测量仪表进行工艺监督
7 镀层厚度测量
7.1 基于β辐射反射技术的镀层厚度测量
7.2 基于β辐射反射技术的镀层厚度测量装置
7.3 利用β辐射反射原理进行镀层厚度测量的应用
7.3.1 锡镀层厚度的测定
7.3.2 锌镀层厚度的测量
7.3.3 银镀层厚度的测量
7.3.4 金镀层厚度的测量
7.3.5 双镀层厚度的测量
7.3.6 塑料和涂料涂层厚度的测量
7.3.7 其它涂层厚度的测量
7.3.8 镗孔电镀层厚度的测量
7.4 利用X射线荧光测量层厚
8 密度测量
8.1 利用Υ辐射吸收法进行密度测量
8.2 测量位置的设计
8.2.1 测量仓的充满度
8.2.2 气泡
8.2.3 测量管中的沉积
8.2.4 测量管的磨损
8.2.5 吸收长度的选定
8.2.6 校准可能性的保证
8.3 密度测量仪表
8.4 放射性同位素密度计的应用
9 水分含量测量
9.1 利用中子慢化法测量水分含量
9.2 湿度计的工艺应用
9.2.1 水分含量不变的混合料的生产
9.2.2 供给特定量水分
9.2.3 带质量修正的加料
10 利用核仪表测定材料成分
10.1 以辐射吸收原理工作的仪表
10.1.1 β辐射吸收的应用
10.1.2 Υ辐射吸收的应用
10.2 利用辐射反射（散射）进行测量
10.2.1 β辐射反射的应用
10.2.2 Υ辐射反射的应用
10.3 次级辐射的测量
10.3.1 由β辐射产生的次级辐射的测量
10.3.2 由Υ辐射产生的次级辐射的测量
10.3.3 荧光辐射的测量
10.4 中子辐射的应用
10.4.1 活化分析
10.4.2 自发核反应的应用
10.4.3 中子吸收和散射的应用
10.5 Υ辐射的选择相互作用
10.6 根据天然放射性测定材料成分
11 核方法的其它工业应用
11.1 输送带上的连续测量
11.2 包裹内装物品的检查
11.3 利用Υ辐射吸收探测烟
11.4 静电荷的消除
11.5 可携式核仪器
11.5.1 土壤密度和水分含量的测量
11.5.2 利用反射技术进行壁厚测量
11.5.3 料位测定计
12 工业用放射性同位素测量装置的建立
12.1 装置的适当选定和数据获取
12.2 规划应用
12.3 现场操作
12.4 辐射防护
12.4.1基本原理
12.4.2辐射源容器
参考文献
附录
