| 作 者： | 曹利国 |
| 出版社： | 原子能出版社 |
| 丛编项： | |
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| 标 签： | 科技 原子能技术 |
| ISBN | 出版时间 | 包装 | 开本 | 页数 | 字数 |
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前言
基础篇
绪论
第一章 数理统计概念
第二章 测量数据的处理
第三章 实验室总体布置
第四章 核辐射防护基本知识
上篇
实验1 核辐射探测系统及测量仪表
实验2 G-M计数管的信息传送和放大
实验3 放射性现象的统计特征
实验4 a射线在空气中的吸收
实验5 Nal（ Tl）闪烁探测器的组成及其“坪”曲线的测定
实验6 Nal（ Tl）闪烁谱仪测定γ射线谱及能量刻度
实验7 γ辐射仪的标定
实验8 γ射线在物质中的吸收
实验9 铀矿床（模型）的勘探
实验10 正比计数器测定元素X射线谱
实验11 康普顿一吴有训散射谱与散射角的关系
实验12 等效密度测定（骨密度计）
实验13 镀层、涂层厚度的X射线荧光测量方法
下篇
实验14 直流高压获取与性能测试
实验15 线性脉冲放大电路的仿真
实验16 平方反比定律的验证
实验17 CMOS单道脉冲幅度分析器
实验18 钍射气220 Rn半衰期及衰变常数的测定
实验19 β射线在物质中的吸收
实验20 γ射线穿过物质时仪器谱成分的变化
实验21 散射料位测量
实验22 γ射线反散射谱的影响因素
实验23 半导体探测器γ谱仪
实验24 热释光测量原理及最佳测试条件的选择
实验25 BF3中子计数器及中子场分布
实验26 天然放射性方法测定矿石中的铀含量
实验27 正比计数器工作状态的选择
实验28 能量色散X荧光分析技术--谱测量与分析
实验29 Si（ Li）半导体探测器
实验30 X射线管-Si-PIN X射线谱仪特性研究
实验31 轻元素薄膜厚度测量
实验32 吸收法料位测量
实验33 γ散射法探测介质内部缺陷
实验34 水中泥沙含量测定
实验35 中子活化反应及生成核素半衰期测定
研究性实验
实验36 覆盖层下图像的研究
实验37 工业CT初探及图象重建
实验38 活性炭吸附测环境中的氡浓度
实验39 增量法作单元素X射线荧光分析
实验40 蒙特卡罗方法模拟γ射线穿过物质时谱成分的变化
附录
附录A 元素周期表
附录B 元素吸收限及特征X射线能量
附录C 天平的使用
附录D 长度的测量
附录E 低功率高电压的测量
